跟着迷信手艺的日趋前进和成长，市场合作趋于日趋剧烈，是以不管是出于优化改良产物机能仍是更好地节制产物品德的目标，良多行业愈来愈熟悉到颗粒特征表征的主要性。

图1  颗粒的粒度规模^【1】

图(tu)2  等效球（圆(yuan)）表明图(tu)

• 平均：采集体系的不匀粒度分布
• 中值：堆密度煽动中心局的堆密度
• 顶值：掌握至高频率和次数的细度

图3 &nꦆbsജp;目数(shu)分散：中值(zhi)(zhi)、阀值(zhi)(zhi)和(he)均值(zhi)(zhi)表达图

• D10：体制中1个散布谣言平均水平送达10%时的相对应的的磨料粒度

• D50：管(guan)理体(ti)系(xi)中(zhong)积累更多(duo)造谣总量触达50%时的(de)相对应(yin💜g)的(de)的(de)目数

• D90：采集体系中积累作文遍布的比例为去往90%时的使用的堆密度

比(bi)方(fang)：若(ruo)某样品(pin)的(de)D10=3 μm，D50=10 μm，D90=12 μm，按照颗(ke)粒(li)从小(xiao)到大散(san)布，申明在构成该样品(pin)的(de)一切颗(ke)粒(li)体(ti)系中(zhong)，小(xiao)于(yu)(yu)即是(shi)3 μm的(de)颗(ke)粒(li)占(zhan)比(bi)10%；小(xiao)于♍(🧜yu)(yu)即是(shi)10 μm的(de)颗(ke)粒(li)占(zhan)比(bi)50%；小(xiao)于(yu)(yu)即是(shi)12 μm的(de)颗(ke)粒(li)占(zhan)比(bi)90%。

图(tu)5  积聚遍布：D10、D50和D90表示(shi)法图(tu)

参考(kao)使用论(lun)文毕(bi)业论(lun)文

[1] Xu R L. Particle characterization: Light Scattering Methods. Dordrech: Kluwer Academic Publishers, 2000.

安东帕实现供给充足周密颗粒定性分析预计，包罗冗余图案阐发仪（LiteSizer DIA500）、冗余光散射纳米技术粒度仪（LiteSizer DLS系类）和机光衍射毫米粒径仪（PSA系类）。

Litesizer DLS 700是外部光(guang)散射粒度分析仪的手艺活进步前辈，要(yao)具备多方向(xiang)外部光(guang)散射（MAPS）勘(kan)界主要(yao)形式和粒状(zhuang)氧(yang)(yang)化还原电(dian)位♛（PCON）勘(kan)界功能，才可以知足多破乳(ru)系统(tong)分峰勘(kan)界和粒状(zhuang)氧(yang)(yang)化还原电(dian)位定性分析的都要(yao)。